汇编指令-状态寄存器、cmp、test、jz等指令详细说明
作者：xingpacer
一、状态寄存器
首先看看:状态寄存器(即标志寄存器)
PSW(Program Status Word)程序状态字(即标志)寄存器,是一个16位寄存器,由条件码标志(flag)和控制标志构成,
如下所示：
条件码：
①OF(Overflow Flag)溢出标志,溢出时为1，否则置0.标明一个溢出了的计算,如:结构和目标不匹配。
②SF(Sign Flag)符号标志,结果为负时置1，否则置0。
③ZF(Zero Flag)零标志,运算结果为0时置1，否则置0。
④CF(Carry Flag)进位标志,进位时置1，否则置0.注意:Carry标志中存放计算后最右的位。
⑤AF(Auxiliary carry Flag)辅助进位标志，记录运算时第3位(半个字节)产生的进位置。
有进位时1,否则置0。
⑥PF(Parity Flag)奇偶标志.结果操作数中1的个数为偶数时置1，否则置0。
控制标志位：
⑦DF(Direction Flag)方向标志，在串处理指令中控制信息的方向。
⑧IF(Interrupt Flag)中断标志。
⑨TF(Trap Flag)陷井标志。
test和cmp指令运行后都会设置标志位，为举例方便说一下jnz和jz
测试条件
JZ ZF=1
JNZ ZF=0
即Jz＝jump if zero (结果为0则设置ZF零标志为1，跳转)
Jnz＝jump if not zero
二、test指令和cmp指令
好,接着来看test和cmp
1、test指令
test属于逻辑运算指令
功能：执行BIT与BIT之间的逻辑运算
测试(两操作数作与运算,仅修改标志位，不回送结果)。
Test对两个参数(目标，源)执行AND逻辑操作，并根据结果设置标志寄存器，结果本身不会保存。EST AX, BX 与 AND AX, BX 命令有相同效果
语法：TEST r/m,r/m/data
影响标志：C,O,P,Z,S(其中C与O两个标志会被设为0)
运用举例：
1.Test用来测试一个位，例如寄存器:
test eax, 100b; b后缀意为二进制
jnz ******; 如果eax右数第三个位为1,jnz将会跳转
jnz跳转的条件非0，即ZF=0，ZF=0意味着零标志没被置位，即逻辑与结果为1。
2.Test的一个非常普遍的用法是用来测试一方寄存器是否为空：
test ecx, ecx
jz somewhere
如果ecx为零，设置ZF零标志为1，Jz跳转
2、cmp指令
CMP属于算术运算指令
功能: 比较两个值(寄存器,内存,直接数值)
语法: CMP r/m,r/m/data
标志位: C,P,A,Z,O
CMP比较.(两操作数作减法,仅修改标志位,不回送结果)。
cmp实际上是只设置标志不保存结构的减法，并设置Z-flag(零标志)。
零标志很像carry，也是内部标志寄存器的一位。
例如:
Cmp eax, 2; 如果eax-2=0即eax＝2就设置零标志为1
Jz ****; 如果设置了零标志就跳转
得出的结论
test逻辑与运算结果为零,就把ZF(零标志)置1；
cmp 算术减法运算结果为零,就把ZF(零标志)置1。
对于jz和jnz，查看代码和理解汇编代码时，直接判断test和cmp的运算结果决定是否跳转，至于ZF标记位是系统得知运算结果的标记位。
三、 直接标志转移
指令格式 机器码 测试条件 如...则转移
JC 72 C=1 有进位
JNC 73 C=0 无进位
JZ/JE 74 Z=1 零/
JNZ/JNE 75 Z=0 不为零/
JS 78 S=1 负号
JNS 79 S=0 正号
JO 70 O=1 有溢出
JNO 71 O=0 无溢出
JP/JPE 7A P=1 奇偶位为偶
JNP/IPO 7B P=0 奇偶位为奇
四、间接标志转移
先用cmp指令比较再用下面的判断（少了一个 JE 为等于）：
指令格式 机器码 测试格式 如...则转移
JA/JNBE() 77 CZ=0 >/
JAE/JNB() 73 C=0 >=/
JB/JNAE() 72 C=1 </
JBE/JNA() 76 CZ=1 <=/
JG/JNLE() 7F (SO)Z=0 >/
JGE/JNL() 7D SO=0 >=/
JL/JNGE() 7C SO=1 </
JLE/JNG() 7E (SO)Z=1 <=/
小结
test指令
将两个操作数进行逻辑与运算，并根据运算结果设置相关的标志位。test命令的两个操作数不会被改变。运算结果在设置过相关标记位后会被丢弃。
影响的标志位CF，ZF，OF，SF，PF
cmp指令
比较指令。cmp的功能相当于减法指令，只是对操作数之间运算比较，不保存结果。cmp指令执行后，将对标志寄存器产生影响。其他相关指令通过识别这些被影响的标志寄存器位来得知比较结果。
影响的标志位CF，ZF，OF，AF，PF